Actividad principal
Equipamiento de referencia
- Equipos portátiles de Chispa y Fluorescencia de Rayos X.
- Espectroscopía de Emisión por Chispa (base Fe, Al, Ni, Cu, Co).
- Espectroscopía de Emisión por Plasma (ICP-OES y ICP-MS).
- Fluorescencia de rayos X.
- Difracción de rayos X.
- Analizadores automáticos de C, S, N, O, H.
- Fotómetros, pH-metros, conductímetros, etc…
- Dilatométro.
- Unidad de preparación física de muestras.
- Estufas, hornos, balanzas, termobalanza y equipamiento general de laboratorio.
- Impactores de alto volumen (HCI).
- Medidor de partículas en continuo (GRIM).
- Multimetro Keithley DMM7510 para la medición de conductividad y resistividad eléctrica.
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Instalaciones y capacidades dedicadas para la determinación del Grado de Limpieza Técnica de Componentes:
· Microscopio LEICA DM4000 M LED con software específico Leica Cleanliness expert 4.5.0.
· Cabina PALL para extracción de la suciedad de componentes
Cabina de extracción de suciedad PALL
Ensayo limpieza técnica de componentes
Análisis elemental
Extracción de suciedad de piezas de pequeñas dimensiones en baño de ultrasonidos (Cabina PALL)
Análisis elemental
Limpieza unitaria de piezas mediante irrigación a presión en Cabina PALL (extracción de suciedad)
Análisis elemental por ICP
conductividad electrica
Análisis elemental por espectrometría de chispa
Análisis elemental