Laboratorio de metalografía - Azterlan

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Instalaciones y equipamiento de vanguardia para la caracterización avanzada de materiales y componentes metálicos.

Actividad principal

Equipamiento de referencia

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) equipado con detectores de energías dispersivas de rayos X (EDS), dispersión de longitud de onda de rayos X (WDS) y difracción de electrones retro dispersados (EBSD).
Microscopio electrónico de barrido (SEM), con modo de presión controlada y ambiental, equipado con micro-espectrómetro de energías dispersivas de rayos X.
Microscopios ópticos equipados con sistema de análisis de imagen.
Equipamiento para preparación metalográfica (cortadoras de precisión, pulidoras, máquinas de empastillado, ataque electrolítico, etc).
Lupa estereoscópica.
Ferritómetro de inducción magnética.
Equipo de medición de espesores por fluorescencia de rayos X.
Equipo de medición de espesores por inducción magnética.

SEM - microscopio electrónico de barrido

Caracterización estructural mediante microscopía óptica

Inspección de rotura mediante microscopía óptica

Microscopia optica