Bi lan ekitaldi egin ziren ekainaren 28an eta 29an IK4-AZTERLAN Ikerketa Metalurgikorako Zentroan. Parte hartzaileen artean enpresetako teknikariak, unibertsitaetak eta Ikerkuntza Zentroak aurkitzen ziren.
“Macrotik Microra eta Microtik Nanora” lelopean LEICA Microsystemsek eta IK4-AZTERLANek eskainitako ikastaro bikoitzak materiale metalikoen karakterizazio estrukturalerako mikroscopia teknikarik aurreratuenak ezagutzeko aukera eskaini zien bertaratu ziren profesionalei.
LEICAko adituen eskutik microskopia optikoaren inguruan sarrera teorikoa jaso ondoren, jardunaldia alderdi praktikoetan sartu zen. Honela, mikroskopia digitalaren bitartez irudien sorrera eta mikroskopia analitikoari buruzko adibide zehatzak landu ziren; baita mikroskopia analitikoari buruzko ezaugarri zehtzak ere. Mikroskopia analitikoa mikroanalisiarekin lotutako mikroskopia elektronikoaren alorra da.
Bere aldetik, IK4-AZTERLAN Ikerketa Metalurgikorako Zentroak, David Peña-ren eskutik (fraktografian aditua), teknika mikroskopikoen erabileran gaitasun analitikoak erakutsi zizkien bertaratutakoei. Peñak zenbait gako tekniko eskaini zituen analisirako ekipamendu optiko egokia aukratzeko egoera baikoitzean aurkezten diren beharren arabera.
Workshopak praktikekin itxi ziren. Berauetan mikroskopio estereoskopioak, digitalak eta metalografikoak erabiltzeko aukera izan zen, baita irudia eta 2D eta 3D neurketak lorzeko softwareak erabiltzeko aukera ere.
Ikastarora bertaratutako enpresek eta teknikariek beraiek ekarritako laginak aztertzeko aukera izan zuten LEICA Microsystemseko eta IK4-AZTERLANeko adituen laguntza teknikoarekin.
Mikroskopia jardunaldiei buruzko bideoa
Mikroskopia jardunaldiek utzitako momentu batzuk
Ezkerretik eskuinera Alberto Torcal (Leica Microsystems), David Peña (IK4-AZTERLAN) eta Dionís Díez (Leica Microsystems). Eskuinean, aurkezpeneko momentu bat.
